JIS H0610-1966 锗晶体浸蚀点密度的测定方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 06:16:19  浏览:8237   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Methodofmeasurementofetchpitdensityofgermaniumcrystal
【原文标准名称】:锗晶体浸蚀点密度的测定方法
【标准号】:JISH0610-1966
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1966-12-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:蚀刻;腐蚀检查;锗;无损检验;密度;晶体;测量;孔;材料有屑加工
【英文主题词】:measurement;etchinspection;non-destructivetesting;holes;etching;material-removalprocesses;density;;crystals
【摘要】:この規格は,ゲルマ=ウム単結晶の(111)面上のエッチピット密度を測定する場合について規定する。測定しうるエッチピット密度は,1cmあたり0～100000個の範囲とする。
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:29_045;77_120_99
【页数】:4P;A4
【正文语种】:日语