JIS K0132-1997 扫描电子显微镜总则
作者:标准资料网 时间:2024-05-16 13:18:13 浏览:9693
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【英文标准名称】:Generalrulesforscanningelectronmicroscopy
【原文标准名称】:扫描电子显微镜总则
【标准号】:JISK0132-1997
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1997-09-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonChemicalAnalysis
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;电子管;电子显微镜;显微镜
【英文主题词】:electronmicroscopes;microscopes;;testing
【摘要】:この規格は,走査電子顕微鏡を用いて,主として二次電子による試料表面の微小部の形態観察と分析を行う場合の一般的事項について規定する。
【中国标准分类号】:N33
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:44P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:扫描电子显微镜总则
【标准号】:JISK0132-1997
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1997-09-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonChemicalAnalysis
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;电子管;电子显微镜;显微镜
【英文主题词】:electronmicroscopes;microscopes;;testing
【摘要】:この規格は,走査電子顕微鏡を用いて,主として二次電子による試料表面の微小部の形態観察と分析を行う場合の一般的事項について規定する。
【中国标准分类号】:N33
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:44P;A4
【正文语种】:日语
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